سمپوزیوم بینالمللی تست و تحلیل شکست ISTFA2025
پنجاه و یکمین سمپوزیوم بینالمللی تست و تحلیل شکست (ISTFA) در تاریخ ۲۵ الی ۲۹ آبان ۱۴۰۴ (۱۶ تا ۲۰ نوامبر ۲۰۲۵) در پاسادنا، ایالت کالیفرنیا برگزار خواهد شد.
این رویداد که توسط ASM International سازماندهی شده است، بر تحلیل شکست ادوات میکروالکترونیک با موضوع اصلی «مقیاسپذیری فراتر از قانون مور: محاسبات ناهمگن و بستهبندی پیشرفته» تمرکز دارد که منعکسکننده تغییر چشمانداز به سمت ادغام فناوریهای متنوع است.
این رویداد متخصصان و محققانی را که در زمینه تست و تحلیل شکست دستگاههای نیمههادی فعالیت میکنند، گرد هم میآورد و جلسات فنی، کارگاهها و نمایشگاهی را ارائه میدهد. تولیدکنندگان مشهور میکروسکوپ الکترونی، از جمله Zeiss، Tescan، JEOL و Thermofisher Scientific در این رویداد حضور دارند، زیرا آنالیز SEM و تصویربرداری میکروسکوپ الکترونی از ادوات میکروالکترونیک به یک گام کلیدی در فرآیند ساخت دستگاه تبدیل شده است.
